EPK MiniTest 730涂层测厚仪具有创新的SIDSP探头内部数字信号处理技术,提升了测量的精确性,测量范围最高达15mm,精度1μm或5μm,分辨率0.05μm、0.1μm、1μm,可以解决您所有涂层厚度问题。
Elektrophysik德国EPK MiniTest 700系列涂层测厚仪可以让您轻松变换测量需求。在对精度要求不高的条件下,您可以短时间测量大量数值,也可以只测量少数几个数值,但要求精度很高,您只需选择相应的模式就可以做到。EPK730涂镀层测厚仪创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性,测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用,操作方便不易出错。
MINITEST 700 系列可以满足您所有涂层测量需求:如果您想单手测量,可以选择内置探头的EPK 720涂层测厚仪;EPK 730测厚仪则是外置探头的;EPK740型号探头内置外置可换。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏,显示内容可以180度旋转,方便您读取数据。
SIDSP探头技术使测量不受干扰,测值更加精确
可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740 探头可由内置换为外置)
FN 探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
温度补偿功能避免温度变化引起的错误
生产过程中50 点校准使仪器获得高精确度的特征曲线
大存储量,能存储10 或100 组多达100,000 个读数
读数和统计值能单独调出,超大背光显示屏,显示内容可180度旋转
EPK730涂层测厚仪菜单指引操作,25 种语言可选
带IrDA 接口,红外线传输数据到打印机和PC,可下载更新软件
主机型号 | MiniTest 720涂层测厚仪 | MiniTest 730测厚仪 | MiniTest 740 |
探头类型 | 内置探头 | 外置探头 | 探头内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10组 | 10组 | 100组 |
存储数据量 | 最多10,000个 | 最多10,000个 | 最多100,000个 |
统计值 | 读值个数、最小值、最大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置) | ||
校准模式 | 出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准,使用者可调节补偿值 | ||
极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 | ||
测量单位 | μm、mm、cm;mils、inch、thou |
探头特性 | F1.5,N0.7,FN1.5 | F2 | F5,N2.5,FN5 | F15 | ||
F型 | N型 | F型 | F型 | N型 | F型 | |
测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范围 |
小工件,薄涂层 跟测量支架一起使用 |
粗糙表面 | 标准探头,使用广泛 | 厚涂层 | ||
测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
精确度 | ±(1μm+0.75%读数) | ±(1.5μm+0.75%读数) | ±(5μm+0.75%读数) | |||
重复性 | ±(0.5μm+0.5%读数) | ±(0.8μm+0.5%读数) | ±(2.5μm+0.5%读数) | |||
最小曲率半径(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
最小曲率半径(凹) | 外置探头7.5mm,内置30mm | 外置10mm,内置探头30mm | 外置25mm,内置30mm | |||
最小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
最小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
测量速度 |
连续模式下测量速度每秒20个读数,单值模式下最大测量速度每分钟70个 探头内部32位信号处理(SIDSP) |
更多规格说明参考http://www.testeb.com/download/201603/EPK-720_MiniTest720_730_740.pdf
带塑料手提箱或防尘套,内含:
F1.5/ N0.7/ FN1.5探头用测量支架
MINITEST 720( 内置探头) 或MINITEST 730(外置探头)
或MINITEST740 主机(不含探头,有各种探头可选)
校准套装含校准片和零板
操作使用说明CD,德语、英语、法语、西班牙语、中文说明书、2节AA电池、携带软包