日本HIOKI IM3533 LCR METER是一款极具性价比的高端测试仪，测量频率1mHz-200kHz，精度±0.05%，内置低阻抗高精度模式可有效测量电容的C值、电感(线圈·变压器)的DCR和L-Q以及土壤的腐蚀性评估、智能锁防盗码的天线阻抗测量，IM3533-01能测量L,C复合零件等各种被测物的频率特性，2ms的快速测试时间。
日本日置LCR测试仪IM3533、IM3533-01基本精度达到±0.05%，大范围的测量频率1mHz~200kHz，最快2ms高速测量，通过断线检查功能提高了测量、匝数比&互阻抗测量等的可信度，相比以往产品实现了高性能多功能，是一款极具性价比的高端测试仪，覆盖从产线到研发领域。
基本精度±0.05％，测量范围广，DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA
在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下，不间断测试，速度是以往产品的10倍
内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻
日置IM3533测试仪通过变压器测量专用界面，能够测量匝数比N，漏感M，电感差ΔL和温度补偿DCR
IM3533-01能根据指定的频率范围和频率列表，改变最大801点的频率后自动进行测量
除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置，内置比较器和BIN功能，2ms的快速测试时间
应用举例：测量电容的C-D和ESR，极性电容的C值，测量电感(线圈·变压器)的DCR和L-Q，变压器·卷线测量，土壤的腐蚀性评估，智能锁·防盗码的天线阻抗测量；IM3533-01能测量L,C复合零件等各种被测物的频率特性。
可施加-5V~5V内部DC偏压进行测量，如钽电容等有机电容也能放心进行测量
| 型号 | 日置IM3523 LCR测试仪 | IM3533 LCR测试仪 | IM3533-01测试分析仪 |
| 测量模式 |
LCR模式： 单一条件测量 连续测量模式： 通过已保存的条件连续测量(2条) 用于电线零件、管脚元件和SMD元件 |
LCR模式： 单一条件测量 变压器测量模式： N匝数比, M漏感, ΔL电感差 连续测量模式： 通过保存的条件进行连续测量 LCR模式(最多60条) |
LCR模式：单一条件测量 变压器测量模式：N,M,ΔL 连续测量模式： 通过已保存的条件进行连续测量 LCR模式(最多60条) 分析模式(最多2条) 分析模式：用测量频率扫描 (测量点2~801, 常规扫频明细显示) |
| 测量参数 |
Z阻抗[Ω]、Y导纳[Ω]、θ相位角[°]、 Rs等效串联电阻=ESR[Ω]、 Rp并联等效电路的电阻[Ω]、DCR X电抗[Ω]、G电导率[S]、B电纳[S]、 Cs串联等效电路的静电容量[F]、 Cp并联等效电路的静电容量[F]、 Ls串联等效电路的电感[H]、 Lp并联等效电路的电感[H]、 D损失系数=tanδ、Q因素(Q=1/D） |
Z, Y, θ, Rs(ESR), Rp, DCR(直流电阻), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D(tanδ), Q, N匝数比, M漏感, ΔL电感差, T 应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域， 及电容电感，电气化学 |
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| 量 程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程, (所有参数通过Z规定)，主机能保存32000组数据 | ||
| 显示范围 |
Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp ： ±(0.000000[单位]~9.999999G[单位])，Z和Y为绝对值显示 θ： ±(0.000°~999.999°)、D： ±(0.000000~9.999999)、Q： ±(0.00~99999.99)、Δ%： ±(0.0000%~999.9999%) |
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| 基本精度 | Z： ±0.05%rdg. θ： ±0.03° | ||
| 测量频率 | 40Hz~200kHz (1mHz~10Hz步进) | 1mHz~200kHz (1mHz~10Hz步进) | |
| 信号等级与阻抗 |
常规模式（输出阻抗100Ω）： V模式·CV模式： 5 mV~5 Vrms, 1mV rms步进 CC模式： 10 μA~50 mA rms,10μA rms步进 |
常规模式（输出阻抗100Ω）： V模式·CV模式：5mV~5Vrms, 1 mVrms步进 CC模式：10μA~50mArms, 10μArmsCC步进 低阻抗高精度模式（输出阻抗25Ω）： V模式·CV模式：5mV~2.5Vrms, 1m Vrms步进 CC模式：10μA~50mArms, 10μArms步进 |
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| 显 示 | 单色LCD | 彩色TFT5.7英寸，显示可设置ON/OFF | |
| 测量时间与速度 | 2ms(100kHz，FAST，显示OFF，代表值)，速度模式FAST/MED/SLOW/SLOW2 | ||
| DC偏压 测量 | - |
常规模式：-5.00V~5.00V (10mV步进) 低阻抗高精度模式：-2.50V~2.50V (10mV步进) |
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| BIN测量 | 主要参数10种，辅助参数1中，范围外 | 2个项目10种，范围外 | |
| 外部接口 |
EXT I/O、USB(Hi-Speed) 选件：RS-232C/GP-IB/ LAN(10BASE-T/100BASE-TX) 可选择安装其中一种 |
EXT I/O、USB(Hi-Speed)、USB存储 选件：RS-232C/GP-IB/LAN，可选择安装其中一种 |
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| 尺寸及重量与标准配置 |
[IM3523] 约260W×88H×203D mm,约2.4 kg [IM3533/IM3533-01] 约330W×119H×168D mm,约3.1 kg 标配：主机、电源线、说明书、CD-R(通讯说明书，软件) 需结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具 |
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IM3523测试仪规格说明书http://www.testeb.com/download/202002/HIOKI_IM3523_IM3533.pdf
日置IM3533/IM3533-01：包含主机、电源线、使用说明书、CD-R(通讯说明书，样品软件)
测试治具、探头不是标配，请根据需要另外选购选件中的测试治具和探头
[选件——外接通讯模块]
Z3000 GP-IB接口，9151-02 GP-IB连接线；Z3001 RS-232C接口卡，Z3002 LAN接口
9268-10 DC偏置电压单元 直连型，40Hz～8MHz，最大施加电压±40V；9269-10型40Hz～2MHz，2A、±40V
[用于引脚部件测试——测试治具、探头]
L2000 4端子探头：频率DC～8 MHz，可测量端子直径0.3mm～5 mm
9261-10测试治具：频率DC～8 MHz，可测量端子直径0.3mm～1.5mm
9140-10 4端子探头：主机直连型，DC～8 MHz，可测0.3mm～2 mm
[SMD测试治具]
IM9110：直连型，对应0201尺寸，用于侧面电极SMD，电极2端子结构DC～1MHz
IM9100：对应0402,0603,1005这3种尺寸，电极4端子结构可进行高精度测量，DC～8MHz
9677、9699、9263主机直连型SMD治具
L2001镊形探头：频率8 MHz，前端部分接触头IM9901 、IM9902探针可更换
用于电气化学分析4端子探头9500-10，频率DC～200kHz，可测量端子直径0.3～2mm
IM3536：DC 4Hz~8MHz的通用LCR测试仪，用于电容、电感等电子元件，测试速度1ms
IM3533测试仪：DC 1mHz~200kHz，可进行变压器专用测量，IM3533-01装有扫频功能，速度2ms
IM3523：DC 40Hz~200kHz频率，适用于自动设备组装、生产线的高性价比产品，测试速度2ms
3511-50：120Hz、1kHz测试频率，用于小型·单功能的LCR测试，铝电解电容的生产线，5ms
3506-10 C测试仪：1kHz、1MHz频率，用于低容量电容的C测试仪，MLCC、薄膜电容生产，1.5ms
3504 C测试仪：120Hz、1kHz频率，大容量MLCC的选机(3504-50/60)、贴片机(3504-40)，2ms
IM7580A阻抗分析仪：1MHz~300MHz高频率测量，用于铁氧体磁珠、电感的生产线，高速0.5ms
IM3570阻抗分析仪：DC 4Hz~5MHz，1台实现LCR测试和阻抗分析，压电元件、高分子电容、功率电感
IM3590化学阻抗分析仪：DC 1mHz~200kHz，Cole-Cole图、等效电路分析、LCR，电气化学部件及材料/电池/EDLC双电层电容的测量
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