固纬lcr电桥测试仪LCR-80000G系列1MHz/5MHz/10MHz高精度LCR表,具有幅频特性曲线图表功能,LCR-8110G频率范围20Hz~10MHz,精度0.1%,以图表形式显示元器件的阻抗特性随着扫描频率或电压的变化所呈现的规律。
Gwinstek LCR-8000G系列数字电桥表针对宽广的频率范围内阻抗的精密测量而设计,其中LCR-8101G为1 MHz,LCR-8105G为5MHz,LCR-8110G电桥测试仪20Hz-10MHz。可以测量11种不同参数,基本精度为0.1%,这样就满足了RF电路中元器件和模组的精确测量要求。,LCR-8110G测试仪图表模式功能将以图表的形式,显示元器件的阻抗特性随着扫描频率或电压的变化所呈现的规律,并以曲线图的形式显示结果。标准配备的GPIB和RS-232C接口,可以用于设备远端控制和读取测试结果。
固纬lcr测试仪LCR-8000G系列具有单层操作菜单的超大LCD显示屏,用户不需要很长 的学习时间即可进行操作。LCR-8110G丰富的特点让您的测试任务变得更加简单而实用。
测试频率 |
LCR-8101G:1MHz高精度LCR表 LCR-8105G:5MHz高精度LCR表 LCR-8110G:10MHz高精度LCR表 |
基本准确度 | ±0.1% (R, Z, X, G, Y, B, L, C) |
测量参数 |
阻抗 (Z), 相位角 (θ), 电感 (L), 电容 (C),交流电阻 (Rac), 品质因数 (Q), 损耗因数 (D), 导纳 (Y), 电导 (G), 电抗 (X), 电纳 (B),直流电阻 (Rdc) |
LCR-8110G电桥测试仪测量范围 | |
R, Z, X | 0.1mΩ ~ 100MΩ |
G, Y, B | 10nS ~ 1000S |
L | 0.1nH ~ 100kH |
C | 0.01pF ~ 1F |
D | 0.00001 ~ 9.9999 |
Q | 0.1 ~ 9999.9 |
θ | -180° ~ +180° |
Rdc | 0.1mΩ ~ 100MΩ |
LCR8110G数字电桥表测试速度 | |
交流 (> 2kHz) | 直流 |
最大(MAX): 75mS | 最大(MAX): 30mS |
快速(FAST): 150mS | 快速(FAST): 60mS |
中速(MEDIUM): 450mS | 中速(MEDIUM): 120mS |
慢速(SLOW): 600mS | 慢速(SLOW): 900mS |
测试信号电平 |
≦3MHz:10mV~2Vrms, 1mV/Step or 10mV/Step, 2%±5mV >3MHz:10mV~1Vrms, 1mV/Step or 10mV/Step, 2%±5mV |
短路电流 | 最大20mA |
输入阻抗 | 100Ω |
接口 | RS-232, GPIB |
电源 | AC 115V ±10% / 230V ±10% (可选), 50/60Hz |
尺寸&重量 | 330(宽) x 170(高) x 340(深)mm, 约5公斤 |
LCR8110G 数字电桥测试仪说明书下载地址http://www.testeb.com/download/201603/GWINSTEK_LCR-8110G.pdf
LCR-8101G 1MHz高精度LCR电桥
LCR-8105G 5MHz高精度LCR电桥
LCR-8110G 10MHz高精度LCR电桥表
标配:测试线LCR-12、电源线、用户手册
选配:夹具冶具配件 □ 表示配件工作在限制频率内(1MHz 以下)
配件型号 | 描述 | LCR-8101G | LCR-8105G | LCR-8110G |
LCR-05 | 轴向和径向元件测试夹具 | √ | □ | □ |
LCR-06A | Kelvin clip测试线(4线) | √ | □ | □ |
LCR-07 | Kelvin clip测试线(2线)+接地 | √ | □ | □ |
LCR-08 | SMD/Chip测试夹具 | √ | □ | □ |
LCR-09 | SMD/Chip元件(固定式)测试冶具 | √ | √ | √ |
LCR-12 | Kelvin clip测试线(4线)+接地夹 | √ | √ | √ |
LCR-13 | SMD/Chip 元件(固定式)测试冶具 | √ | √ | √ |
GTL-232 | RS-232C连接线, 9-pin母座对9-pin,Null Modem | √ | √ | √ |
GRA-404 | 面板机架 (19", 4U) | √ | √ | √ |