发布时间：2016年04月17日

德国马尔MarSurf PS1表面粗糙度测量仪24种测量参数

马尔Mahr PS1粗糙度仪是在加工现场使用的便携式粗糙度测量仪，可测量25个参数，提供与实验室仪器相同的功能范围，最大测量范围为350µm，能进行非常广泛的粗糙度和轮廓测量要求。

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马尔Mahr MarSurf-PS1 粗糙度仪规格参数与图片

测量参数RA,RQ,RZ,RY(JIS),RZ(JIS),RMAX,RP,AR,RX...(24种,自定义公差带范围)

测量范围350μm、180μm、90μm，自动量程识别

轮廓分辨率32nm、16nm、8nm，机器自动识别

最大可储存20000个测量结果，15个轮廓

测量原理触针法，电感测头，测尖半径2μm

MarSurf PS1粗糙度仪取样长度n*1~5可选

取样长度Lc 0.25mm、0.8mm、2.5mm，自动

扫描长度Lt 1.75mm、5.6mm、17.5mm

测量力约0.7mN

采用标准 DIN、ISO、ASME、JIS

中文界面，公英制转换，薄膜式键盘，清晰的专用液晶显示屏幕

带RS232接口. 带USB接口线，方便与外设连接，内置粗超度样板，带检定证书

Elcometer 7061粗度计即MarSurf PS1表面粗糙度测试仪

测量原理	接触法传感器带寻头的电感式传感器，测尖2um(80UIN)，测力约0.7MN
测量范围	350 µm、180 µm、90 µm（自动切换）
最高分辨率	0.001µm
轮廓分辨率	32 nm、16 nm、8 nm（自动切换）
测量单位	公制/英寸
测量参数	RA,RQ,RZ,RY(JIS),RZ(JIS),RMAX,RP,RP(ASME),RPM(ASME), RPK,RK,RVK,MR1,MR2,A1,A2,VO,RT,R3Z,RPC,RMR,TP(JIS,ASME), RSM,R,AR,RX(24种,自定义公差带范围)
过滤器符合 ISO/JIS 标准	相位校正轮廓过滤器，符合 DIN EN ISO 11562 标准；专用过滤器，符合 DIN EN ISO 13565-1 标准； ls 过滤器，符合 DIN EN ISO 3274 标准（可脱离）
短行程符合 ISO/JIS	可选
测量长度扫描长度	1 mm, 2 mm, 4 mm, 8 mm, 12 mm, 16 mm
根据 ISO/JIS 评估长度	1.25 mm、4.0 mm、12.5 mm
采样长度数量符合 ISO/JIS	可选：1 至 5
探针	2 µm
测量力 (N)	约..0.7 mN
校准功能	MarSurf PS1表面粗糙度仪具有动态校准功能
储量	最多 15 个轮廓，最多 20000 个结果
其他	锁定/密码保护，日期/时间
可充电电池	锂离子电池
宽范围电源	100 至 264 V
尺寸 (mm)	140 x 50 x 70