美国International Light紫外辐照计XSD340B规格说明书

国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测，校准于365nm光阻剂作用光谱，精确地知道光致抗蚀剂曝光的程度，可测量高达30W/cm2 高强度，用于PCB印刷电路板光及半导体业。关于美国International Light XSD340B 紫外辐照计详细产品介绍请点击图片或网址http://www.testeb.com/XSD340B.html

美国International Light XSD340B 紫外辐照计

XSD340B说明书文档下载地址

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SED254QT说明书：http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_SED254-QT.pdf

ST-513说明书：http://www.testeb.com/download/201508/Sentry_ST510-ST512-ST513.pdf

ILT2400-FARUVC说明书：https://www.intl-lighttech.com/products/ilt2400-faruvc-222nm-light-meter

XSD340A说明书：http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_Quick_Manual.pdf

UVB说明书：http://www.testeb.com/download/201601/UV-A_UV-B_2.pdf