美国International Light紫外辐照计XSD340A规格说明书

International Light ILT2400辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺，可测量320-475nm光阻剂作用光谱，校准于405nm，光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2，NIST可溯源ISO17025认证校准报告，保证测量结果精确可靠。关于美国International Light XSD340A 紫外辐照计详细产品介绍请点击图片或网址http://www.testeb.com/XSD340A.html

美国International Light XSD340A 紫外辐照计

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SED254QT说明书：http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_SED254-QT.pdf

ILT2400-FARUVC说明书：https://www.intl-lighttech.com/products/ilt2400-faruvc-222nm-light-meter

ST-513说明书：http://www.testeb.com/download/201508/Sentry_ST510-ST512-ST513.pdf

UVB说明书：http://www.testeb.com/download/201601/UV-A_UV-B_2.pdf

XSD340B说明书：http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_XSD340_SD140.pdf