LED发光二极管的实际寿命与工作温度往往成反比,如LED使用寿命在工作温度为74℃为10000小时、63℃为25000小时,小于50℃时,则可为50000小时。LED的光电转换效率大约只有15%至20%左右,其余均转换成为热能。因此,当大量使用高功率的LED于一块模组,应用于高亮度的操作时,这些极差的转换效率将造成散热处理的大问题。使用红外热像仪不仅在研发过程中能够发挥作用,而且也可以应用在产品的品质管理等方面。
主要是对LED模块驱动电路(包括电源)、光源半导体发热分布分析、及光衰测试等。
a)LED模块驱动电路
在LED产品研发中,需要工程师进行一部分驱动电路设计,例如整流器电路模块。利用热像仪,工程师可以迅速而便捷地发现电路上温度异常之处,便于完善电路设计。
b)LED光源半导体芯片发热
利用热像仪,工程师可以通过光源半导体芯片发热红外热图,分析出其芯片在工作时的温度,以及温度的分布情况,在此基础,达到提高LED产品寿命的目的。
c)光衰试验
LED产品的光衰就是光在传输中的信号减弱,而现阶段全球的LED大厂们做出的LED产品光衰程度都不相同,大功率LED同样存在光衰,这和温度有着直接的关系,主要是由晶片、荧光粉和封装技术决定的。目前,市场上的白光LED其光衰可能是向民用照明进军的首要问题之一。
a)半导体照明:吹制灯泡均匀性
通过热像仪抓拍产线玻璃吹泡的过程,进行参数修正,改善掐口工艺,可以有效提高产品成品率,降低成本。
b)LED检测芯片封装前的温度
LED芯片封装前检测温度可以避免封装后因温度异常,降低废品率。此阶段手不能接触表面,热像仪能够很好的帮助客户发现此处的问题,作为流水线检测工具。
c)LED成品显示屏开机测试
LED显示屏完成后,要做最后验收,通过不同颜色的测试来看屏幕是否符合交货的要求,目前大多数企业都没有这个流程。使用热像仪后,能够为厂家完善产品检测标准,提高产品质量。
通过红外线热像仪检测目标时,不需要断电,操作方便,同时非接触测量使原有的温度场不受干扰,而且反应速度较快 ,小于1毫秒。除了可以拍摄红外温度热图像外,还可以同时捕获一幅可见光照片并传输到电脑终端,有助于第一时间识别和定位故障。推荐的主要热像仪品牌包括美国Flir菲利尔红外热像仪及(建议型号flir i5/ flir 17/ flir e6热像仪)福禄克Fluke红外热成像仪。