美国International Light - 仪器仪表 型号/图片

美国ILT2400紫外辐照计XSD340AT7探头XIR395nm波长校准片

International Light ILT2400辐照计及XSD340AT7探头响应范围320-475nm、XIR395校准片用于精确测量395nm波长曝光强度等级和曝光时间，测量速度高达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，带NIST可溯源ISO17025认证校准证书。

美国ILT2400辐照计SED033/QNDS2/W探头太阳辐射测量100倍衰减滤光片

美国International Light ILT2400及SED033/QNDS2/W辐照度测量系统用于太阳和太阳模拟器辐射测量，探头响应波长200-1100nm，传感器安装100倍衰减滤光片，读数范围6e-7 W/cm²~10W/cm²，带美国NIST可溯源校准和证书。

International Light ILT2400辐照计XSD340AT7探头405nm紫外线UV固化

美国ILT2400辐照计配合XSD340AT7探头可用于测量320~475nm波段、中心波长405nm的辐照度，量程8e-6至60W/cm2，可用于高强度曝光机UV固化工艺测量，以及光阻剂测量、3D打印等监测应用。

美国ILT2400辐照计SED005/UVF/A313探头UV LED能量计350-400nm

International Light ILT2400辐照计及SED005/UVF/A313探头专门为提高UV LED曝光机测量系统精确度而设计，在UV固化作用光谱350~400nm区域提供更均匀的响应，辐照度测量范围0.05μW/cm2~800mW/cm2，可添加峰值波长的PIR校准过滤片，带美国NIST可溯源ISO17025认证校准报告。

美国ILT2400+XSD005UVF UVLED辐照计350-410nm固化曝光测量

国际光学International Light ILT2400+XSD005UVF辐照计探头具有平坦一致性的光谱曲线，该系统适用于监测UV LED固化曝光能量强度及时间，在UV固化的关键区域350-410nm波长提供更均匀的响应，以手持式的价格提供研究级的质量。

美国ILT2400辐射计UV固化光刻紫外杀菌及3D打印曝光辐照度测量

International Light ILT2400辐射计支持多种光测量应用如UV紫外杀菌灯、激光/红外线光、UV固化、扫描激光安全、3D打印、通用光测量等，测量速度达100μs，可切换lux,W/cm2, cd/m2测量单位，精度7%。

美国ILT2400紫外辐照计SED033/A/W探头320-475nm紫外波长辐射照度计

美国International Light PCB印刷线路板曝光测量ILT2400辐照计与SED033/A/W探头作用于320-475nm波长频谱，带有专门用于A波段的光刻胶过滤器及W扩散器，可测定2e-7至2 W/cm²辐照度，测光表和探测器均带NIST可溯源ISO17025认证校准报告。

[停产]美国万国光学ILT1400辐照计与XRL140B/XSL140B/XRL340A探头

International Light ILT1400紫外线辐照计已停产升级为ILT2400型，原先配套用于紫外线杀菌、UV固化/光刻胶曝光测量的XRL140B、XSL140B、XRL340A等系列探头也一起停产，需要要购买新的测光表和光探测器替代。

[停产]International Light ILT1700台式研究级辐照计高精度光探测

美国ILT1700台式辐照计特别为光探测器测量而设计，具有0.1%线性精度，提供美国NIST校准报告证书，内置RS232和USB输出，应用于闪光灯测量、LED发光、紫外线杀菌、光刻胶、紫外固化、激光研究和植物光生物学等。

[停产]美国International Light ILT490紫外辐照计UV固化照度计

美国International Light万国光学公司ILT490紫外线辐照计适用于多种灯，包括掺铁型(Iron doped)、H型、D型和标准UV光源—UVC/UVAB，测试波长205nm-345nm/250-400nm，辐照度范围10mW/cm2~20W/cm2，准确度优于6%。