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美国ILT2400紫外辐照计XSD340AT7探头XIR395nm波长校准片
International Light ILT2400辐照计及XSD340AT7探头响应范围320-475nm、XIR395校准片用于精确测量395nm波长曝光强度等级和曝光时间,测量速度高达100μs,内置可充电电池持续长达8小时,4.3寸触摸屏显示,可横向和纵向观看,带NIST可溯源ISO17025认证校准证书。
美国ILT2400辐照计SED033/QNDS2/W探头太阳辐射测量100倍衰减滤光片
美国International Light ILT2400及SED033/QNDS2/W辐照度测量系统用于太阳和太阳模拟器辐射测量,探头响应波长200-1100nm,传感器安装100倍衰减滤光片,读数范围6e-7 W/cm²~10W/cm²,带美国NIST可溯源校准和证书。
International Light ILT2400辐照计XSD340AT7探头405nm紫外线UV固化
美国ILT2400辐照计配合XSD340AT7探头可用于测量320~475nm波段、中心波长405nm的辐照度,量程8e-6至60W/cm2,可用于高强度曝光机UV固化工艺测量,以及光阻剂测量、3D打印等监测应用。
美国ILT2400辐照计SED005/UVF/A313探头UV LED能量计350-400nm
International Light ILT2400辐照计及SED005/UVF/A313探头专门为提高UV LED曝光机测量系统精确度而设计,在UV固化作用光谱350~400nm区域提供更均匀的响应,辐照度测量范围0.05μW/cm2~800mW/cm2,可添加峰值波长的PIR校准过滤片,带美国NIST可溯源ISO17025认证校准报告。
美国ILT2400+XSD005UVF UVLED辐照计350-410nm固化曝光测量
国际光学International Light ILT2400+XSD005UVF辐照计探头具有平坦一致性的光谱曲线,该系统适用于监测UV LED固化曝光能量强度及时间,在UV固化的关键区域350-410nm波长提供更均匀的响应,以手持式的价格提供研究级的质量。
美国ILT2400辐射计UV固化光刻紫外杀菌及3D打印曝光辐照度测量
International Light ILT2400辐射计支持多种光测量应用如UV紫外杀菌灯、激光/红外线光、UV固化、扫描激光安全、3D打印、通用光测量等,测量速度达100μs,可切换lux,W/cm2, cd/m2测量单位,精度7%。
美国ILT2400紫外辐照计SED033/A/W探头320-475nm紫外波长辐射照度计
美国International Light PCB印刷线路板曝光测量ILT2400辐照计与SED033/A/W探头作用于320-475nm波长频谱,带有专门用于A波段的光刻胶过滤器及W扩散器,可测定2e-7至2 W/cm²辐照度,测光表和探测器均带NIST可溯源ISO17025认证校准报告。
[停产]美国万国光学ILT1400辐照计与XRL140B/XSL140B/XRL340A探头
International Light ILT1400紫外线辐照计已停产升级为ILT2400型,原先配套用于紫外线杀菌、UV固化/光刻胶曝光测量的XRL140B、XSL140B、XRL340A等系列探头也一起停产,需要要购买新的测光表和光探测器替代。
[停产]International Light ILT1700台式研究级辐照计高精度光探测
美国ILT1700台式辐照计特别为光探测器测量而设计,具有0.1%线性精度,提供美国NIST校准报告证书,内置RS232和USB输出,应用于闪光灯测量、LED发光、紫外线杀菌、光刻胶、紫外固化、激光研究和植物光生物学等。
[停产]美国International Light ILT490紫外辐照计UV固化照度计
美国International Light万国光学公司ILT490紫外线辐照计适用于多种灯,包括掺铁型(Iron doped)、H型、D型和标准UV光源—UVC/UVAB,测试波长205nm-345nm/250-400nm,辐照度范围10mW/cm2~20W/cm2,准确度优于6%。